ANALYSE SANS CONTACT À TRÈS BASSE FRÉQUENCE

Détail

    • TRL (Technology readiness level) -

Technologie

Voir la fiche PDF
    • Titre ANALYSE SANS CONTACT À TRÈS BASSE FRÉQUENCE
    • Description Procédé et dispositif pour l’analyse interne de composants microélectroniques.
      Les techniques actuelles ne permettent qu’une mesure à plusieurs dizaines de kilohertz au minimum à cause de la bande passante du système optique.
      Cette invention permet de faire une mesure en dessous du kilohertz en utilisant une modulation d’amplitude de la source laser.
      Cette modulation permet de transposer la mesure électrique « en très basse fréquence » vers une mesure plus haute fréquence optimale pour le système optique.
    • Bénéfices Capacités reconnues
      - Valorisation par le fabricant d’instruments Hamamatsu
      Exclusivité
      - Seule méthode de mesures basses fréquences sans contact de ce type
      Économique
      - Compatible avec la plupart du matériel existant.
      - Conservation des garanties.
      - Gain d’efficacité.

      Analyse très basse fréquence
      - Analyse de composants microélectroniques en
      fonctionnement dynamique.
      - Mesure des signaux basses fréquences habituellement
      indétectables par sondage laser.
      - Conservation du spectre basses fréquences sans
      distorsion.
      - Amélioration de la qualité du signal de sortie.
      Un système simple et performant
      - Adaptable sur les microscopes à balayage laser
      existant sans modifications.
      - Possibilité d’optimiser le gain de la photo-détection sur
      une bande plus étroite.
    • Nouveauté Contrôle qualité électronique
      - Analyse de défaillance des composants électroniques
      - Analyse de design des composants électroniques
      Microcontrôleurs, processeurs (ordinateur, GSM, GPS).
      Composants vidéo.
      Mémoire non volatile, MEMS
    • Mots clés Electronique
    • Secteurs Automatismes Industriels Electronique & Sécurité Energie & Systèmes électriques Mesures & Instrumentation

Technology

    • Titre CONTACT-FREE ANALYSIS AT VERY LOW FREQUENCY
    • Description Method and device for microelectronic components internal analysis.
      The current techniques allow only a measurement at several tens of kilohertz at least because of the bandwidth of the optical system.
      This invention allows to make a measurement below the kilohertz using an amplitude modulation of the laser source.
      This modulation allows to transpose the electrical measurement «at very low frequency» to a higher frequency measurement that is optimal for the optical system.
    • Bénéfices Recognized Capabilities
      - Valuation by the manufacturer of Hamamatsu instruments
      Exclusiveness
      - Only method of this type of non-contact low-frequency measurements
      Economical
      - Compatible with most of existing hardware.
      - Guarantees conservation.
      - Increased efficiency.

      Very Low Frequency Analysis
      - Microelectronic components analysis in dynamic operation.
      - Low frequency signals measurement usually undetectable by laser sampling.
      - Low-frequency spectrum conservation without
      distortion.
      - Improved output signal quality.
      A simple and powerful system
      - Adaptable on existing laser scanning microscopes without modification.
      - Possibility to optimize the photo-detection gain on a narrower band.
    • Nouveauté Electronic Quality Control
      - Failure analysis of electronic components
      - Design analysis of electronic components
      Microcontrollers, processors (computer, GSM, GPS).
      Video components.
      Non-volatile memory, MEMS
    • Mots clés Electronics
    • Secteurs Automation Electronics & Security Energy & Electricals Measurement & Instrumentation